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GP300探針臺12英寸手動探針臺
GP300探針臺產品數據：
機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。
提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。
優異的三軸設計，保證I-V測試漏電精度達到fa等級。
多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。
高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針的準確性和效率。
可升級的高低溫系統，為芯片提供更加成熟穩定的老化測試環境。
緊湊且可靠的機械設計，更適用于芯片的測試及建模系統升級。
能夠根據未來需求，可提供多種升級模塊，輕松實現探針臺功能升級。
短軸式拉桿設計，將更加符合新一代芯片系統測試的需求。拉桿在任意位置可停留、極限位置能快速鎖定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。
溫控系統局部細節圖--高溫低漏電載物臺
搭載直流和射頻探針座實物照片
搭載思儀太赫茲系統實物
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